PhD - Fiabilité des photodétecteurs d'avalanche 3D

PhD - Fiabilité des photodétecteurs d'avalanche 3D

France 31 oct. 2021
CEA Tech

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DÉTAILS OPPORTUNITÉ

Université étatique
Région
Pays hôte
Date limite
31 oct. 2021
Niveau d'études
Type d'opportunité
Spécialités
Financement d'opportunité
Financement complet
Pays éligibles
Cette opportunité est destiné à tous les pays
Région éligible
Toutes les régions

SL-DRT-21-0830

DOMAINE DE RECHERCHE

Photonique, imagerie et écrans

ABSTRAIT

STMicroelectronics développe diverses technologies d'imagerie basées sur CMOS. L'essor et la démocratisation des capteurs d'image conduisent à une diversification des utilisations technologiques telles que l'imagerie haute résolution et la télémétrie à usage domestique et automobile. L'un des enjeux est de répondre aux besoins du marché et de s'adapter à la concurrence en améliorant constamment les performances et la fiabilité des appareils.L'objectif de cette thèse est d'étudier et de modéliser la fiabilité des photodétecteurs à avalanche pour la détection de photons uniques. Le principe de ce capteur réside dans la capacité à mesurer le temps de transit entre une source optique et le détecteur, de quelques centimètres à plusieurs dizaines de mètres tout en étant insensible à la lumière environnante. Une matrice composée de milliers de pixels permet de restituer une image 3D fidèle de la cible. A ce jour, les premiers tests montrent que le détecteur se dégrade avec le temps, entraînant une perte de sensibilité et une dégradation de la précision de mesure. Quantifier ces effets et comprendre ces dérives est absolument nécessaire pour améliorer le processus de fabrication et développer un modèle prédictif de fiabilité.La thèse portera également sur la fiabilité d'un pixel unique et la fiabilité d'une matrice de pixels, afin d'approcher la fiabilité des produits. Le candidat s'appuiera sur un ensemble d'outils de caractérisation et de mesure de la fiabilité, ainsi que des outils de modélisation et de simulation développés à STMicroelectronics.

LIEU

Département Composants Silicium (LETI)

Laboratoire de Caractérisation et Test Electrique

Grenoble

PERSONNE DE CONTACT

COIGNUS Jean

CEA

DRT / DCOS // LCTE

17 rue des Martyrs, 38054 GRENOBLE Cedex 9

Numéro de téléphone: 0438783883

Courriel: jean.coignus@cea.fr

UNIVERSITÉ / ÉCOLE SUPÉRIEURE

INSA Lyon

Electronique, Electrotechnique et Automatique (EEA)

EN SAVOIR PLUS

www.leti-cea.fr

DATE DE DÉBUT

Date de début le 01-10-2020

SUPERVISEUR DE THÈSE

CALMON François

INSA Lyon

Numéro de téléphone:

Courriel: francis.calmon@insa-lyon.fr

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